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• 005 20160414120600.0

• 010 __ |a 978-7-111-52184-6 |d CNY59.90

• 100 __ |a 20160127d2016 em y0chiy0110 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 |A na mi CMOS ji cheng dian lu zhong de xiao yan chi que xian jian ce |b 专著 |f (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编 |g 续海涛等译

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2016

• 215 __ |a 13,191页 |d 24cm

• 225 2_ |a 国际信息工程先进技术译丛 |A Guo Ji Xin Xi Gong Cheng Xian Jin Ji Shu Yi Cong

• 306 __ |a 本书限中国大陆发行

• 312 __ |a 封面英文题名：Testing for small-Delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits

• 330 __ |a 本书分为4个部分：第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成（ATPG）；第2部分关于全速测试，并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD；第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案，可以在ATPG和基于电路拓扑的解决方案之间进行折衷；第4部分介绍了SDD的测试标准，以量化的指标来评估SDD覆盖率。

• 461 _0 |1 2001 |a 国际信息工程先进技术译丛

• 510 1_ |a Testing for small-Delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits |z eng

• 606 0_ |a 纳米材料 |A Na Mi Cai Liao |x CMOS电路 |x 缺陷检测

• 690 __ |a TN432 |v 5

• 701 _0 |c (美) |a 戈埃尔 |A ge ai er |c (Goel, Sandeep K.) |4 主编

• 701 _0 |c (印) |a 查克拉巴蒂 |A zha ke la ba di |c (Chakrabarty, Krishnendu) |4 主编

• 702 _0 |a 续海涛 |A xu hai tao |4 译

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20160414

• 905 __ |a HDUL |d TN432/5422

• 920 __ |a 233030 |z 1