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• 010 __ |a 978-7-121-04542-4 |d CNY89.00

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• 200 1_ |a 数字系统测试 |A Shu Zi Xi Tong Ce Shi |d = Testing of digital systems |f (美)Niraj Jha, Sandeep Gupta著 |F ( Mei )Niraj Jha, Sandeep Gupta Zhu |g 王新安, 蒋安平, 宋春殚等译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2007

• 215 __ |a 16,704页 |d 26cm

• 225 2_ |a 国外电子与通信教材系列 |A Guo Wai Dian Zi Yu Tong Xin Jiao Cai Xi Lie

• 306 __ |a 由Cambridge University Press授权出版

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识，包括基础内容方面的自动测试向量生成、可测性设计、内建自测试等，高级内容方法包括功能测试、延迟故障测试、CMOS测试、存储器测试以及故障诊断等。

• 410 _0 |1 2001 |a 国外电子与通信教材系列

• 510 1_ |a Testing of digital systems |z eng

• 606 0_ |a 数字系统 |A Shu Zi Xi Tong |x 测试 |j 教材

• 690 __ |a TP271 |v 4

• 701 _0 |a 查 |4 著

• 701 _1 |c (美) |a Jha |b Niraj |4 著

• 701 _1 |c (美) |a Gupta |b Sandeep |4 著

• 702 _0 |a 王新安 |A Wang Xin An |4 译

• 702 _0 |a 蒋安平 |A Jiang An Ping |4 译

• 702 _0 |a 宋春殚 |A Song Chun Dan |4 译

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20071023

• 905 __ |a HDUL |d TP271/400

• 920 __ |a 233030 |z 1