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- 010 __ |a 978-7-121-27160-1 |d CNY88.00
- 100 __ |a 20151105d2015 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 半导体集成电路的可靠性及评价方法 |A ban dao ti ji cheng dian lu de ke kao xing ji ping jia fang fa |f 章晓文, 恩云飞编著
- 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2015
- 215 __ |a XV, 394页 |c 图 |d 24cm
- 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A ke kao xing ji shu cong shu
- 330 __ |a 本书共11章, 以硅集成电路为中心, 重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。
- 410 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书
- 606 0_ |a 半导体集成电路 |A ban dao ti ji cheng dian lu |x 可靠性 |x 评价
- 701 _0 |a 章晓文 |A zhang xiao wen |4 编著
- 701 _0 |a 恩云飞 |A en yun fei |4 编著
- 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20151105
- 905 __ |a HDUL |d TN43/060