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• 010 __ |a 978-7-5673-0580-9 |d CNY49.00

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• 200 1_ |a 嵌入式处理器片上追踪调试技术 |A qian ru shi chu li qi pian shang zhui zong tiao shi ji shu |d = On-chip trace debug for embedded processor |f 扈啸, 王耀华, 阮喻著 |z eng

• 210 __ |a 长沙 |c 国防科技大学出版社 |d 2021

• 215 __ |a 199页 |c 图 |d 24cm

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书以片上追踪(片上trace)调试技术为对象，基于可观测性的调试原理，论述了片上trace的必要性、基本概念和原理、体系结构关键技术以及应用技术。介绍了调试技术的相关研究，讨论了嵌入式处理器的调试模型，对片上trace技术的原理、优势和实现模型进行了分析，对片上信息采集压缩、trace数据流的片上传输结构、trace辅助调试调优应用以及程序控制流错误的在线检测等技术进行了研究，并对如何设计实现一套完整的多核片上trace调试系统进行了详述。

• 510 1_ |a On-chip trace debug for embedded processor |z eng

• 606 0_ |a 微处理器 |A wei chu li qi |x 调试方法

• 690 __ |a TP332 |v 5

• 701 _0 |a 扈啸 |A hu xiao |4 著

• 701 _0 |a 王耀华 |A wang yao hua |4 著

• 701 _0 |a 阮喻 |A ruan yu |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20211102

• 905 __ |a HDUL |d TP332/360

• 920 __ |a 233030 |z 1