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• 010 __ |a 978-7-5612-2516-5 |d CNY30.00

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 微电子计量测试技术 |A Wei Dian Zi Ji Liang Ce Shi Ji Shu |f 沈森祖主著 |g 沈森祖 ... [等] 著

• 210 __ |a 西安 |c 西北工业大学出版社 |d 2009

• 215 __ |a 227页 |c 图 |d 26cm

• 304 __ |a 题名页题: 沈森祖, 韩红星, 刘文捷, 吴丹著

• 312 __ |a 英文并列题名取自封面

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书从工程的实际应用出发，系统地介绍了微电子计量测试的基本概念，并通过电子计量技术、微电子测试技术、微电子测试设备以及微电子测试程序设计开发技术等部分，深入介绍了作者及所在团队——中船重工集团公司第709研究所第六研究室 (国防微电子一级计量站)——25年来，在研究、工作实践中取得的主要成果和经验。

• 333 __ |a 可供相关工程技术人员、科研人员阅读参考, 也可作为高等学校有关专业教材或教学参考书

• 510 1_ |a Microelectronic measurement and test technology |z eng

• 606 0_ |a 微电子技术 |A Wei Dian Zi Ji Shu |x 计量技术 |x 测试技术

• 690 __ |a TN407 |v 4

• 701 _0 |a 沈森祖 |A Shen Sen Zu |4 著

• 701 _0 |a 韩红星 |A Han Hong Xing |4 著

• 701 _0 |a 刘文捷 |A Liu Wen Jie |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20101027

• 905 __ |a HDUL |d TN407/343

• 920 __ |a 233030 |z 1