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• 000 01591nam0 2200301 450

• 001 0000825128

• 005 20210524130500.0

• 010 __ |a 978-7-5682-9617-5 |d CNY56.00

• 100 __ |a 20210426d2021 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 基于云架构的智能测试系统关键技术及应用 |A ji yu yun jia gou de zhi neng ce shi xi tong guan jian ji shu ji ying yong |d Key technology and application of intelligent test system based on cloud architecture |f 邓士杰 ... [等] 著 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 北京理工大学出版社 |d 2021

• 215 __ |a 151页 |c 图 |d 24cm

• 304 __ |a 题名页题: 邓士杰, 丁超, 唐力伟, 张英波, 苏续军等著

• 320 __ |a 有书目 (第145-151页)

• 330 __ |a 本书针对现有技术架构下的自动测试系统存在着测试效率和测试资源利用率偏低, 测试成本偏高, 导致已无法高效适应大规模并行测试应用场景的问题, 借鉴云计算的理念, 将电子数据表格技术、虚拟化技术以及最优化理论引入到自动测试系统领域, 并对涉及的关键核心问题进行了论述。本书主要介绍了自动测试系统发展历程、涉及关键技术及未来发展趋势, 云架构下智能自动测试系统的硬件模型、软件模型和运行机制, 智能传感器技术、硬件测试资源虚拟化技术, 不同测试任务下测试资源动态调度理论、原理样机设计与验证等内容。

• 510 1_ |a Key technology and application of intelligent test system based on cloud architecture |z eng

• 606 0_ |a 自动测试系统 |A zi dong ce shi xi tong |x 研究

• 690 __ |a TP274 |v 5

• 701 _0 |a 邓士杰 |A deng shi jie |4 著

• 701 _0 |a 丁超 |A ding chao |4 著

• 701 _0 |a 唐力伟 |A tang li wei |4 著

• 801 _0 |a CN |b HDUL |c 20210524

• 905 __ |a HDUL |d TP274/7441

• 920 __ |a 233030 |z 1