| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：52

题名/责任者:
ESD : failure mechanisms and models / Steven H. Voldman.
出版发行项:
Chichester, West Sussex, U.K. ; Hoboken, N.J. : J. Wiley, 2009.
ISBN:
9780470511374 (cloth)
ISBN:
0470511370 (cloth)
载体形态项:
xxiv, 384 p. : ill. ; 25 cm.
变异题名:
Electrostatic discharge.
个人责任者:
Voldman, Steven H.
论题主题:
Semiconductors-Failures.
论题主题:
Integrated circuits-Protection.
论题主题:
Integrated circuits-Testing.
论题主题:
Integrated circuits-Reliability.
论题主题:
Electric discharges.
论题主题:
Electrostatics.
中图法分类号:
TN47
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN47/BV10 40038105  - 外文书库(外文原版)（11F）     可借
显示全部馆藏信息
CADAL相关电子图书
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架