MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：49
- 题名/责任者:
- 集成测试框架:用Fit进行敏捷软件测试/(美)穆格雷珠Rick Mugridge, Ward Cunningham著 吴兰陟译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2007
- ISBN及定价:
- 978-7-121-04094-8/CNY45.00
- 载体形态项:
- 16, 355页;23cm
- 并列正题名:
- Fit for developing software:framework for integrated tests
- 其它题名:
- 用Fit进行敏捷软件测试
- 个人责任者:
- (美) 穆格雷珠Mugridge, Rick 著
- 个人责任者:
- (美) Cunningham, Ward 著
- 个人次要责任者:
- 吴兰陟 译
- 学科主题:
- 软件-测试
- 中图法分类号:
- TP311.5
- 书目附注:
- 有书目(第341-343页)和索引(第345-355页)
- 提要文摘附注:
- 本书解释了Fit框架的原理，通过一个虚拟的例子，讲述了如何在敏捷软件开发过程中将Fit应用到各个环节，强调测试先行的重要性。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP311.5/241 | 71240018 | - |  临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) |
| TP311.5/241 | 71240019 | - | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) |
| TP311.5/241 | 71240020 | - | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) |
| TP311.5/241 | 71240021 | - | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) |
| TP311.5/241 | 71240017 | - | 样本书阅览室（密集书库136）
|
非可借 |
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