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题名/责任者:

微电子计量测试技术/沈森祖主著 沈森祖 ... [等] 著

出版发行项:

西安:西北工业大学出版社,2009

ISBN及定价:

978-7-5612-2516-5/CNY30.00

载体形态项:

227页:图;26cm

并列正题名:

Microelectronic measurement and test technology

个人责任者:

沈森祖 著

个人责任者:

韩红星 著

个人责任者:

刘文捷 著

学科主题:

微电子技术-计量技术-测试技术

中图法分类号:

TN407

题名责任附注:

题名页题: 沈森祖, 韩红星, 刘文捷, 吴丹著

相关题名附注:

英文并列题名取自封面

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书从工程的实际应用出发，系统地介绍了微电子计量测试的基本概念，并通过电子计量技术、微电子测试技术、微电子测试设备以及微电子测试程序设计开发技术等部分，深入介绍了作者及所在团队——中船重工集团公司第709研究所第六研究室 (国防微电子一级计量站)——25年来，在研究、工作实践中取得的主要成果和经验。

使用对象附注:

可供相关工程技术人员、科研人员阅读参考, 也可作为高等学校有关专业教材或教学参考书

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