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题名/责任者:

半导体材料与器件表征/(美) 迪特尔·K·施罗德著 徐友龙 ... [等] 译

出版发行项:

西安:西安交通大学出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-5693-0218-9/CNY128.00

载体形态项:

10, 714页:图;26cm

统一题名:

Semiconductor material and device characterization

丛编项:

国外名校最新教材精选

个人责任者:

施罗德 (Schroder, Dieter K.) 著

个人次要责任者:

徐友龙 译

个人次要责任者:

任巍 译

学科主题:

半导体材料-研究

中图法分类号:

TN304

题名责任附注:

题名页题: 徐友龙, 任巍, 王杰, 阙文修, 汪敏强等译

版本附注:

译自原书第3版

责任者附注:

迪特尔·K·施罗德 (Dieter K. Schroder), 博士, 美国亚利桑那州立大学电气工程系教授。

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书涉及到半导体材料与器件所有方面的表征手段和方法, 是学习、研究、制造和测试半导体材料与器件不可多得的教科书和参考书。

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