MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：48
- 题名/责任者:
- 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计/（美）克鲁奇（Crouch，A.L.）著
- 出版发行项:
- 北京:中国电力出版社,2004.1
- ISBN及定价:
- 7-5083-1904-4/￥48.00
- 载体形态项:
- 348页;23cm
- 丛编项:
- 原版风暴系列
- 个人责任者:
- （美）克鲁奇（Crouch，A.L.）著 著
- 中图法分类号:
- TN431.2
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN431.2/424 | 70619176 |  临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TN431.2/424 | 70619177 | 临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TN431.2/424 | 70619173 | 密集书库126（2F咨询台委托借阅）
M0060682 |
可借 | 密集书库126（2F咨询台委托借阅） | |
| TN431.2/424 | 70619174 | 密集书库126（非可借）
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非可借 | 密集书库126（非可借） | |
| TN431.2/424 | 70619175 | 密集书库126（非可借）
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非可借 | 密集书库126（非可借） | |
| TN431.2/424 | 70619178 | 自然书库（3F东）
|
可借 | 自然书库（3F东） |
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