MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：117
- 题名/责任者:
- 现代VLSI器件基础/(美) 陶元, 甯德雄著 黄如 ... [等] 译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2020
- ISBN及定价:
- 978-7-121-38073-0/CNY128.00
- 载体形态项:
- xxiii, 484页:图;26cm
- 丛编项:
- 集成电路系列丛书
- 个人责任者:
- 陶元 著
- 个人责任者:
- 甯德雄 著
- 个人次要责任者:
- 黄如 译
- 个人次要责任者:
- 王润声 译
- 学科主题:
- VLSI芯片-电路设计
- 中图法分类号:
- TN470.2
- 题名责任附注:
- 题名页题: 黄如, 王润声, 黎明, 蔡一茂, 谢倩等译
- 版本附注:
- 译自原书第2版
- 出版发行附注:
- 本书中文简体版专有出版权由Yuan Taur, Tak H. Ning授子电子工业出版社
- 书目附注:
- 有书目 (第462-484页)
- 提要文摘附注:
- 本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理, 这对于单个器件的参数设计是非常有帮助的; 然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响, 本书用大量篇幅对现代CMOS器件、双极器件参数之间的相互影响和器件参数的折中设计进行了深度分析和讨论。本书涵盖了CMOS器件和双极器件、电路相关的基本物理原理知识。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN470.2/710 | 60247315 |  临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
|
可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
| TN470.2/710 | 60247316 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
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可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
| TN470.2/710 | 60247317 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
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可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
| TN470.2/710 | 72359343 | 自然书库（3F东）
|
可借 | 现代技术部（1F） | |
| TN470.2/710 | 72359344 | 自然书库（3F东）
|
可借 | 现代技术部（1F） |
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