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题名/责任者:

集成电路测试基础/佛山市联动科技股份有限公司编著 谷颜秋主编

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-121-43802-8/CNY100.00

载体形态项:

x, 330页:图;26cm

丛编项:

集成电路产业知识赋能工程系列丛书

个人次要责任者:

谷颜秋 主编

团体责任者:

佛山市联动科技股份有限公司 编著

学科主题:

集成电路-电路测试

中图法分类号:

TN407

书目附注:

有书目 (第328-330页)

提要文摘附注:

本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章。其内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响, 自动测试设备 (ATE) V/I源的基本原理和实际应用限制, 一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法, 测试数据分析的常用方法, 以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍, 并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。以往这些内容分散到不同教材中, 缺乏系统性。本书以集成电路测试为主线, 从ATE应用角度, 结合编者多年来的研发和应用经验, 将基础知识串联起来。尤其从测试行业新人培养出发, 加入了V/I源的基本原理和实际应用限制的讲解, 并提供了仿真模型, 使读者能够快速、全面地了解集成电路测试所需的各项基础知识。

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