MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：40
- 题名/责任者:
- 电子元器件可靠性技术教程/付桂翠 ... [等] 编著
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-5124-0136-5/CNY35.00
- 载体形态项:
- 273页:图;23cm
- 丛编项:
- 普通高校“十一五”规划教材
- 个人责任者:
- 付桂翠 编著
- 学科主题:
- 电子元件-可靠性-高等学校-教材
- 学科主题:
- 电子器件-可靠性-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TN6
- 书目附注:
- 有书目 (第271-273页)
- 提要文摘附注:
- 本书针对元器件的固有可靠性和使用可靠性的保证技术进行了分类介绍。在固有可靠性保证中主要介绍了元器件的制造工艺、封装技术、失效机理、可靠性试验技术等。在使用可靠性保证中主要介绍了元器件选用控制、使用设计方法、静电防护、可靠性筛选、破坏性物理分析及失效分析技术等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN6/241 | 71715062 | - |  自然书库（3F东）
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| TN6/241 | 71715063 | - | 自然书库（3F东）
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| TN6/241 | 71715064 | - | 自然书库（3F东）
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| TN6/241 | 71715065 | - | 自然书库（3F东）
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| TN6/241 | 71715066 | - | 自然书库（3F东）
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