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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：61

题名/责任者:
微电子测试结构/孙 等编
出版发行项:
,1984.11
ISBN及定价:
/￥1.00
载体形态项:
177页;19cm
个人责任者:
孙 等编 著
中图法分类号:
TN407
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN407/130 70080167   文一密集样本（批次1）（非可借）     非可借
TN407/130 70003235   文一密集（批次1）（非可借）     非可借
TN407/130 70003265   文一密集（批次1）（非可借）     非可借
TN407/130 70049599   文一密集（批次1）（非可借）     非可借
TN407/130 70049719   文一密集（批次1）（非可借）     非可借
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