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题名/责任者:

集成电路测试原理/戴志坚, 王厚军主编

出版发行项:

成都:电子科技大学出版社,2023

ISBN及定价:

978-7-5770-0163-0/CNY68.00

载体形态项:

204页:图;26cm

个人责任者:

戴志坚 1968- 主编

个人责任者:

王厚军 1961- 主编

学科主题:

集成电路-电路测试-高等学校-教材

中图法分类号:

TN407

责任者附注:

戴志坚, 1968年生, 电子科技大学测试计量技术及仪器专业硕士, 现为电子科技大学 (深圳) 高等研究院集成电路测试技术重点实验室主任, 教授级高工。王厚军, 1961年生, 电子科技大学信号与信息处理专业博士, 现为电子科技大学 (深圳) 高等研究院集成电路测试技术重点实验室学术带头人, 教授。

书目附注:

有书目 (第204页)

提要文摘附注:

本书详细介绍了集成电路测试的基本原理、测试系统和测试开发方法。首先介绍了集成电路测试的相关概念和术语, 集成电路测试的最新发展趋势 ; 其次详细介绍了集成电路直流参数测试和模拟集成电路测试的基本方法 ; 再次介绍了数字集成电路的基本测试方法, 然后在此基础上重点介绍了数模混合电路 (ADC/DAC) 测试方法。此外, 本书还对集成电路测试系统 (ATE) 的结构和工作原理、测试接口板 (DIB) 和测试程序开发做了介绍。

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