MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：56
- 题名/责任者:
- 集成电路系统设计、验证与测试/(美)Louis Scheffer, (美)Luciano Lavagno, (美)Grabt Nartin著 陈力颖, 王猛译
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2008
- ISBN及定价:
- 978-7-03-021490-4/CNY62.00
- 载体形态项:
- 14, 470页:图;26cm
- 个人责任者:
- 谢费尔 著
- 个人责任者:
- (美) Scheffer L. (Scheffer, Louis) 著
- 个人责任者:
- (美) Lavagno L. (Lavagno, Luciano) 著
- 个人责任者:
- (美) Nartin G. (Nartin, Grabt) 著
- 个人次要责任者:
- 陈力颖 译
- 个人次要责任者:
- 王猛 译
- 学科主题:
- 集成电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN402
- 一般附注:
- 集成电路EDA技术
- 书目附注:
- 有书目(第448-450页)
- 提要文摘附注:
- 本书内容涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN402/352 | 71290135 | - |  自然书库（3F东）
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可借 | |
| TN402/352 | 71290136 | - | 自然书库（3F东）
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可借 | |
| TN402/352 | 71290137 | - | 自然书库（3F东）
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可借 | |
| TN402/352 | 71290138 | - | 自然书库（3F东）
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可借 | |
| TN402/352 | 71290139 | - | 自然书库（3F东）
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可借 | 现代技术部（1F） |
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