杭州电子科技大学图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

透射电子显微学.下册/David B. Williams，C. Barry Carter著 李建奇等译

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-04-052413-0 精装/CNY129.00

载体形态项:

649页:图;24cm

个人责任者:

(美) 威廉斯 (Williams, David B.) 著

个人责任者:

(美) 卡特 (Carter, C. Barry) 著

个人次要责任者:

李建奇 译

学科主题:

透射电子显微术

中图法分类号:

O766

一般附注:

材料科学经典著作选译

题名责任附注:

英文共同题名：Transmission electron microscopy

版本附注:

据原书第2版译出

提要文摘附注:

本书为透射电子显微学下册，内容包括第三章及第四章，第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟；第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。

豆瓣简介：