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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:86

题名/责任者:
工业芯片可靠性设计/赵东艳编著
出版发行项:
西安:西安电子科技大学出版社,2023
ISBN及定价:
978-7-5606-6710-2/CNY92.00
载体形态项:
367页:图;26cm
并列正题名:
Integrated circuits design for reliability in industry applications
个人责任者:
赵东艳 编著
学科主题:
印刷电路板 (材料)-可靠性设计
中图法分类号:
TM215
一般附注:
国家重点研发计划支持项目
相关题名附注:
英文题名取自封面
书目附注:
有书目 (第364-367页)
提要文摘附注:
本书共6章, 针对工业芯片在使用环境复杂性和内部结构多样性方面的特点, 介绍了其片上可靠性防护的基本原理和工程化设计技术, 重点介绍了应对静电与闩锁等电过应力的防护器件、防护电路和防护架构以及针对RFCMOS、功率芯片和异质集成电路等的专用防护方法, 还介绍了纳米CMOS器件可靠性模型与仿真。
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TM215/445 72521777   自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
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