MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:86
- 题名/责任者:
- 工业芯片可靠性设计/赵东艳编著
- 出版发行项:
- 西安:西安电子科技大学出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-5606-6710-2/CNY92.00
- 载体形态项:
- 367页:图;26cm
- 个人责任者:
- 赵东艳 编著
- 学科主题:
- 印刷电路板 (材料)-可靠性设计
- 中图法分类号:
- TM215
- 一般附注:
- 国家重点研发计划支持项目
- 相关题名附注:
- 英文题名取自封面
- 书目附注:
- 有书目 (第364-367页)
- 提要文摘附注:
- 本书共6章, 针对工业芯片在使用环境复杂性和内部结构多样性方面的特点, 介绍了其片上可靠性防护的基本原理和工程化设计技术, 重点介绍了应对静电与闩锁等电过应力的防护器件、防护电路和防护架构以及针对RFCMOS、功率芯片和异质集成电路等的专用防护方法, 还介绍了纳米CMOS器件可靠性模型与仿真。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TM215/445 | 72521777 | 自然科学第二书库(7F) | 可借 | 自然科学第二书库(7F) | |
TM215/445 | 72521778 | 自然科学第二书库(7F) | 可借 | 自然科学第二书库(7F) | |
TM215/445 | 72521779 | 自然科学第二书库(7F) | 可借 | 自然科学第二书库(7F) |
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