MARC状态：审校 文献类型：西文期刊 浏览次数：171
- 题名/责任者:
- IEEE design & test of computers / IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.
- 出版发行项:
- Los Alamitos, CA : IEEE Computer Society, c1984-
- ISSN:
- 0740-7475
- 载体形态项:
- 1 1
- 起止卷期:
- Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-
- 中图法分类号:
- TP30
- 出版周期:
- Quarterly, Mar. 1991-
- 先前出版周期:
- Quarterly, Feb. 1984-
- 先前出版周期:
- Bimonthly, <Oct. 1987>-Dec. 1990
- 一般附注:
- Title from cover.
- 编号特点附注:
- Vol. 1, no. 1 also called premiere issue.
- 载体形态附注:
- Available also on microfilm and microfiche from the Institute of Electrical and Electronics Engineers.
- 载体形态附注:
- Beginning 1988 also available by subscription, in PDF format, via the World Wide Web.
- 电子资源:
- http://iel.ihs.com/
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TP30/EI1.6 | E06300 | 1992.V.9.NO.1-4 |  外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 11021488 | 2007 v.24 4-6 | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 11021487 | 2007 v.24 1-3 | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 11020511 | 2006 v.23 1-4 | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 11019467 | 2005 v.22,no.1-6 | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 11019127 | 2004 (V.21 No.1-6) | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 11017920 | 2003 (v.20,no.1-6) | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 11016894 | 2002 (V.19,NO1-6) | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 11016661 | 2001 (V.18,NO1-6) | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 11018401 | 2000 (v.17,no.1-4) | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 00E09957 | 1999 V.16,NO.1-4 | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 00E09956 | 1998 V.15,NO.1-4 | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 00E07094 | 1995 V.12,NO.1-4 | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 00E07093 | 1994 V.11,NO.1-4 | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 00E07092 | 1993 V.10,NO.1-4 | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 00E05758 | 1990 V.7-8,NO.,(1-4)-,(1-6) | 外文过刊合订本库（11F）
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非可借 |
| TP30/EI1.6 | 00E04086 | 1987 V.3-4,NO.1-6 | 文献资源建设部（1F）
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非可借 |
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