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MARC状态：已编 文献类型：西文图书 浏览次数：21

题名/责任者:
Symposium on Science and Technology of Defects in Silicon of the 1989 I-MRS Conference C.a.J.ammerlaan, a.Charter,P.wagner.
出版发行项:
Amsterdam North-Helland 1989
ISBN:
0-444-88619-2
载体形态项:
505c25cm
附加个人名称:
C.a.J.ammerlaan, a.Charter,P.wagner.
中图法分类号:
O474-53
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
O474-53/S2 40029629   外文书库(影)（密集书库）     可借
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