MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：42
- 题名/责任者:
- 半导体测试技术原理与应用/刘新福, 杜占平, 李为民编著
- 出版发行项:
- 北京:冶金工业出版社,2007.1
- ISBN及定价:
- 7-5024-4101-/CNY28.00
- ISBN及定价:
- 978-7-5024-4101-/CNY28.00
- 载体形态项:
- 12,304页:图;21cm
- 个人责任者:
- 刘新福 编著
- 个人责任者:
- 杜占平 编著
- 个人责任者:
- 李为民 编著
- 学科主题:
- 半导体材料-参数测试
- 中图法分类号:
- TN304.07
- 一般附注:
- 天津市科协自然科学学术专著基金资助出版
- 书目附注:
- 有书目(第304页)
- 提要文摘附注:
- 本书以半导体测试技术及测试技术的改进为基础，介绍微区薄层电阻多种测试方案的实施与应用，共十一章。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN304.07/003 | 71069832 |  临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TN304.07/003 | 71069837 | 临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TN304.07/003 | 71072078 | 临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TN304.07/003 | 71072079 | 临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TN304.07/003 | 71072080 | 临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TN304.07/003 | 71069830 | 样本书阅览室（密集书库136）
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非可借 | ||
| TN304.07/003 | 71069831 | 自然书库（3F东）
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| TN304.07/003 | 71069833 | 自然书库（3F东）
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| TN304.07/003 | 71069834 | 自然书库（3F东）
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| TN304.07/003 | 71069835 | 自然书库（3F东）
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| TN304.07/003 | 71069836 | 自然书库（3F东）
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可借 | ||
| TN304.07/003 | 71072077 | 自然书库（3F东）
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可借 | ||
| TN304.07/003 | 71072081 | 自然书库（3F东）
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可借 |
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