MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：53
- 题名/责任者:
- VLSI测试方法学和可测性设计/雷绍充等著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2005.1
- ISBN及定价:
- 7-121-00379-1/CNY29.80
- 载体形态项:
- 286页;25cm
- 个人责任者:
- 雷绍充 著
- 个人责任者:
- 邵志标 著
- 个人责任者:
- 梁峰 著
- 学科主题:
- 超大规模集成电路-测试技术
- 非控制主题词:
- VLSI
- 中图法分类号:
- TN47
- 提要文摘附注:
- 本书系统介绍超大规模集成电路的测试方法学和可测性设计，主要内容为电路测试、分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测试设计，扫描和边界扫描理论以及专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN47/120 | 70754917 |  样本书阅览室（密集书库136）
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非可借 | |
| TN47/120 | 70754918 | 自然书库（3F东）
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可借 | |
| TN47/120 | 70754919 | 自然书库（3F东）
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可借 | |
| TN47/120 | 70754920 | 自然书库（3F东）
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可借 | |
| TN47/120 | 70754921 | 自然书库（3F东）
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可借 | |
| TN47/120 | 70754922 | 自然书库（3F东）
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可借 |
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