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MARC状态：已编 文献类型：西文图书 浏览次数：33

题名/责任者:
Proceedings International test confer
出版发行项:
New York IEEE 1992.
ISBN:
0-8186-3167-8
载体形态项:
c
附加个人名称:
International test confer
中图法分类号:
TP274-53
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TP274-53/I13 40032062   外文书库(影)（密集书库）     可借
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