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检索到 6 条 责任者=International test confer 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Proceedings TP274-53/I3

    馆藏复本：2
    可借复本：2     International Test Conference
    IEEE 1990
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.The three faces of test :design,characterizationproduction:proceedings TP274-53/I11

    馆藏复本：2
    可借复本：2     International Test Conference
    IEEE,Computer Society.Pr. 1984
    (0) 馆藏

  3. 西文图书3.Integration of test with design and manufacturing: proceedings TP274053/I1

    馆藏复本：1
    可借复本：1     International Test Confernce
    IEEE 1987
    (0) 馆藏

  4. 西文图书4.Proceedings TP274-53/I4

    馆藏复本：1
    可借复本：1     International Test Conference
    IEEE 1991
    (0) 馆藏

  5. 西文图书5.Proceedings TP274-53/I13

    馆藏复本：1
    可借复本：1     International test confer
    IEEE 1992.
    (0) 馆藏

  6. 西文图书6.Proceedings TP274-53/I2

    馆藏复本：1
    可借复本：1     International Test Conference
    IEEE 1989
    (0) 馆藏

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