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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:72

题名/责任者:
制冷红外探测器组件封装技术/李建林主编
出版发行项:
北京:冶金工业出版社,2023
ISBN及定价:
978-7-5024-9575-6/CNY86.00
载体形态项:
XIV, 263页:图;24cm
并列正题名:
Packaging technology for refrigerated infrared detector assemblies
个人责任者:
李建林 主编
学科主题:
低温-红外探测器-封装工艺-研究
中图法分类号:
TN215
相关题名附注:
英文题名取自封面
提要文摘附注:
本书总结了制冷红外探测器组件封装技术发展的历史和趋势, 系统介绍了微型金属杜瓦封装技术, 以及真空获得、长寿命测试与评价和高真空绝热特性测试等关键核心技术。针对真空质量特性的测试与评价, 分别阐述了非解真空微型金属杜瓦的热流、真空寿命测试装置的构成、测试原理和方法。
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TN215/414 72565604   自然书库(3F东)     可借 自然书库(3F东)
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