MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:72
- 题名/责任者:
- 制冷红外探测器组件封装技术/李建林主编
- 出版发行项:
- 北京:冶金工业出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-5024-9575-6/CNY86.00
- 载体形态项:
- XIV, 263页:图;24cm
- 个人责任者:
- 李建林 主编
- 学科主题:
- 低温-红外探测器-封装工艺-研究
- 中图法分类号:
- TN215
- 相关题名附注:
- 英文题名取自封面
- 提要文摘附注:
- 本书总结了制冷红外探测器组件封装技术发展的历史和趋势, 系统介绍了微型金属杜瓦封装技术, 以及真空获得、长寿命测试与评价和高真空绝热特性测试等关键核心技术。针对真空质量特性的测试与评价, 分别阐述了非解真空微型金属杜瓦的热流、真空寿命测试装置的构成、测试原理和方法。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN215/414 | 72565604 | 自然书库(3F东) | 可借 | 自然书库(3F东) | |
TN215/414 | 72565605 | 自然书库(3F东) | 可借 | 自然书库(3F东) | |
TN215/414 | 72565606 | 自然书库(3F东) | 可借 | 自然书库(3F东) |
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