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MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：31

题名/责任者:
Testing static random access memories : defects, fault models, and test patterns / by Said Hamdioui.
出版发行项:
Boston : Kluwer Academic, 2004.
ISBN:
1402077521 (alk. paper)
载体形态项:
xx, 221 p. : ill. ; 25 cm.
丛编题名:
Frontiers in electronic testing
个人责任者:
Hamdioui, Said.
论题主题:
Random access memory-Testing.
中图法分类号:
TP333.8
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TP333.8/BH1 40038165  - 外文书库(外文原版)（11F）     可借
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