MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：112
- 题名/责任者:
- 数字系统测试/(美)Niraj Jha, Sandeep Gupta著 王新安, 蒋安平, 宋春殚等译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2007
- ISBN及定价:
- 978-7-121-04542-4/CNY89.00
- 载体形态项:
- 16,704页;26cm
- 并列正题名:
- Testing of digital systems
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 查 著
- 个人责任者:
- (美) Jha Niraj 著
- 个人责任者:
- (美) Gupta Sandeep 著
- 个人次要责任者:
- 王新安 译
- 个人次要责任者:
- 蒋安平 译
- 个人次要责任者:
- 宋春殚 译
- 学科主题:
- 数字系统-测试-教材
- 中图法分类号:
- TP271
- 出版发行附注:
- 由Cambridge University Press授权出版
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识，包括基础内容方面的自动测试向量生成、可测性设计、内建自测试等，高级内容方法包括功能测试、延迟故障测试、CMOS测试、存储器测试以及故障诊断等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP271/400 | 71144761 | - |  临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) |
| TP271/400 | 71144762 | - | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) |
| TP271/400 | 71144760 | - | 样本书阅览室（密集书库136）
|
非可借 |
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