| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：34

题名/责任者:
Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices / Takashi Nakamura ... [et al.].
出版发行项:
Hackensack, NJ : World Scientific, c2008.
ISBN:
9789812778819
ISBN:
9812778810
载体形态项:
xxii, 343 p. : ill. (some col.) ; 24 cm.
附加个人名称:
Nakamura, Takashi, 1939-
论题主题:
Semiconductor storage devices.
论题主题:
Neutron irradiation.
论题主题:
Radiation dosimetry.
论题主题:
Nuclear physics.
中图法分类号:
TP333.5
书目附注:
Includes bibliographical references (p. 291-315) and index.
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TP333.5/BN1 40038199  - 外文书库(外文原版)（11F）     可借
显示全部馆藏信息
CADAL相关电子图书
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架