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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：50

题名/责任者:
超大规模集成电路测试/雷绍充, 邵志标, 梁峰编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2008
ISBN及定价:
978-7-121-06307-7/CNY45.00
载体形态项:
12,319页:图;26cm
个人责任者:
雷绍充 编著
个人责任者:
邵志标 编著
个人责任者:
梁峰 编著
学科主题:
超大规模集成电路-测试技术
中图法分类号:
TN470.7
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书内容主要包括：概述、电路测试基础、验证，模拟和仿真、自动测试生成、专用可测试性设计、扫描设计、边界扫描法、随机测试和伪随机测试、内建测试等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
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